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Coreia do Sul
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KEITHLEY KEITHLEY 236
- Fabricante: Keithley
- Modelo: 236
Detalhes: Unidade de medição da fonte | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: KEITHLEY 236 Unidade de medição da fonte
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GENUS Stratagem300
- Fabricante: GENUS
Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Gênero Stratagem300
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WONIK IPS MAHA HP2
- Fabricante: WONIK IPS
Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: WONIK IPS MAHA HP2
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DMS I-GEMINUS 6000
- Fabricante: DMS
- Modelo: I-GEMINUS 6000
Tamanho do wafer: 12" | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: DMS I-GEMINUS 6000
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2005 TEL ALPHA 303I
- Fabricante: Tokyo Electron - TEL
- Modelo: Alpha-303i
Tamanho do wafer: 12" | Processo: ETCH | Envio: EXW
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1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR
- Fabricante: Nicolet
- Modelo: MAGNA 410 FT-IR
Processo: Espectrômetro | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600
- Fabricante: Verteq
- Modelo: SUPERCLEAN 1600
Processo: SECADOR COM ENXÁGUE GIRATÓRIO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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CARLZEISS AXIOTON
- Fabricante: CARLZEISS
Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JWS-7500E
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Sistema de inspeção de wafer | Envio: EXW
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