Usado analisadores de componentes

Aquisição de dados NI-DAQ 6052E

• usado

• Fabricante: National Instruments

Módulo de relógio Gnubi EPX100

• usado

• Fabricante: gnubi

Módulo Controlador Gnubi EPX000

• usado

• Fabricante: gnubi

Matrizes de monitores TAP integrados Oplink

• usado

• Fabricante: OPLINK

LFA 427

• novo

• Fabricante: NETZSCH

Medição: 0,1 W/mK a 2000 W/mK | Dimensões da amostra: Diâmetro de 6 mm a 12,7 mm (versão especial de 20 mm), quadrado de 10x10 mm | Suporte de amostra: Al2O3 | Metal líquido: sapphire | Amostras para líquidos: pl...

Conjunto de teste HP 83420A Lightwave

• usado

• Fabricante: HP

Item: HP 83420A | Tipo de calibração: Somente teste funcional. | Comprimento de onda central: 1308 ±10 nm | Potência óptica média de saída: 600µW (máx.), 260µW (típico), 125µW (mín.) | Conector óptico: HMS 10/HP ...

Unidade de Jitter Anritsu MU150011A 2.5G

• usado

• Fabricante: Anritsu

Módulo receptor óptico de velocidade Anritsu MU150017B 2.5G/10G RX (amplo)

• usado

• Fabricante: Anritsu

Gerador de Padrão de Pulso Agilent 12.5Gig

• usado

• Fabricante: Agilent - Keysight

Dados e saídas de dados: Amplitude de 0,5 V a 2 Vpp, | Opção uhf: Sistema analisador de desempenho de erros com fonte de relógio; | Opção uhg: Gerador de padrões e fonte de relógio (nenhum detector de erros forne...

Receptor Agilent 83410B Lightwave

• usado

• Fabricante: Agilent - Keysight
• Modelo: 83410

PC de montagem em rack Aglient HP Keysight para 86030A

• usado

• Fabricante: Agilent - Keysight

TDW 4240

• novo

Condutividade térmica: 0.007 a 2 W/(m-K) | Faixa de medição: 0.001 W/(m-K) até 0,25 W/(m-K) | Tamanhos das amostras (máx.): 203 mm x 203 mm x 51 mm | Faixa de temperatura: -160 a 250°C (versão para baixa temperat...