Usado Equipamentos De Suporte (Semicondutores)

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processar: Microscópio de Inspeção de Wafer | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7500E

Tamanho da bolacha: 8" | Processar: Sistema de Inspeção de Wafer | Envio: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabricante: CARLZEISS

Processar: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

EXPEDIUS

Tamanho da bolacha: 12" | Processar: DUMMY CLN | Envio: EXW

NIDEC IM 15

• Fabricante: Nidec-Shimpo

Processar: Inspeção de wafer | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Fabricante: LUMONICS

Tamanho da bolacha: 8" | Processar: Sistema de marcação a laser | Envio: EXW`

IWATANI LNS-1

• Fabricante: IWATANI

Detalhes: Fornecedor de nitrogênio líquido | Envio: Embalagem e envio é de responsabilidade do comprador | Comentários: Fornecedor de nitrogênio líquido IWATANI LNS-1

Nanometrics Caliper_MOSAIC

• Fabricante: Nanometrics
• Modelo: CALIPERMOSAIC

Envio: Embalagem e envio é de responsabilidade do comprador | Comentários: Paquímetro Nanométrico_MOSAIC

E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE

• Fabricante: Kannegiesser-Etech

Processar: ESCOPO DE INSPEÇÃO | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

TTS DXL-800HS-CE

• Fabricante: TTS

Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Fabricante: Nicolet
• Modelo: MAGNA 560 FT-IR

Processar: Espectrômetro | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricante: Leica

Processar: Microscópio de Inspeção de Wafer | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

GYE-12000 GYE-12000

• Fabricante: GYE-12000

Tamanho da bolacha: 8" | Envio: EXW

SVS MSX1000

• Fabricante: SVS

Tamanho da bolacha: 8" | Envio: EXW

GENUS Stratagem300

• Fabricante: GENUS

Envio: Embalagem e envio é de responsabilidade do comprador | Comentários: GENUS Stratagem300