Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

KLA-TENCOR P 12

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12

1996 BROOKS METARA 7200

• usado

• Fabricante: Brooks

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

2013 HITACHI RS6000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 6000

Envio: EXW

1991 NIKON 3

• usado

• Fabricante: Nikon

Tamanho do wafer: 5" | Processo: ESTAÇÃO OPTI

2010 RUDOLPH S3000A

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

2006 KLA CI T1X0

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor

Envio: EXW

1990 KLA SFS7200

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SFS7200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Metrologia | Envio: EXW

1991 KLA SFS7200

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SFS7200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Metrologia | Envio: EXW

RUDOLPH WV320

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: WV320

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de Macro | Envio: EXW`

2005 VISTEC LWM9000

• usado

• Fabricante: Vistec

Tamanho do wafer: 6" | Envio: EXW