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Usado Inspeção De Defeitos in Seul, Coreia do Sul

  • 2009 HITACHI RS4000T

    2009 HITACHI RS4000T

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-4000

    Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

    Seul, Coreia do Sul

Resumo

A inspeção de defeitos em metrologia de semicondutores engloba sistemas e processos para detectar, classificar e quantificar defeitos em wafers, máscaras e dispositivos embalados. Ferramentas ópticas, por feixe de elétrons ou baseadas em espalhamento medem tamanho, densidade e localização dos defeitos para melhorar o rendimento e a análise de causa raiz. Os equipamentos devem atender a requisitos de sala limpa, vibração e ESD e costumam integrar imagem avançada e análise de dados.

PERGUNTAS FREQUENTES

O que verificar ao comprar um sistema de inspeção de defeitos usado?

Verifique o estado dos detectores e das ópticas, especificações de resolução e sensibilidade, tamanhos de wafer compatíveis, versões de software/firmware, histórico de manutenção e calibração, e disponibilidade de peças e suporte.

Como deve ser o transporte do equipamento para protegê‑lo?

Use transporte com controle climático e amortecimento de vibração, embalagem personalizada, proteção ESD e registradores de impacto. Coordene desmontagem e remontagem com o fornecedor ou equipe certificada e assegure o frete.

Quais rotinas de manutenção e calibração são necessárias?

Realize verificações diárias de óptica e limpeza, monitore bombas/vácuo quando aplicável e faça backups regulares de software. Agende calibração anual com OEM ou laboratório qualificado e troque consumíveis conforme o fabricante.