Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

RUDOLPH S3000A

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

ONTO WV320

• usado

• Fabricante: Onto

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HITACHI S4700-II

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S 4700

Tamanho do wafer: 12" | Processo: FESEM com Horriba EMAX EDX | Envio: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• usado

• Fabricante: PUDOLPH

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW

1999 NEC NEC SL-473F

• usado

• Fabricante: NEC
• Modelo: SL-473F

Processo: MARCADOR DE WAFER SI | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2003 HITACHI RS4000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW

THERMO FISHER ECO 1000

• usado

• Fabricante: Thermo Fisher Scientific
• Modelo: ECO 1000

Processo: SISTEMA FTIR | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 8 | 3 tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Envio: EXW