Coreia do Sul
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HITACHI S4700-II
usado
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S 4700
Tamanho do wafer: 12" | Processo: FESEM com Horriba EMAX EDX | Envio: EXW
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PUDOLPH Meta Pluse3
usado
- Fabricante: PUDOLPH
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW
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2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
usado
- Fabricante: Nanometrics
Tamanho do wafer: 12" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW
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2003 HITACHI RS 4000
usado
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: RS 4000
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW
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1999 NEC NEC SL-473F
usado
- Fabricante: NEC
- Modelo: SL-473F
Processo: MARCADOR DE WAFER SI | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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2003 HITACHI RS4000
usado
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: RS 4000
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW
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THERMO FISHER ECO 1000
usado
- Fabricante: Thermo Fisher Scientific
- Modelo: ECO 1000
Processo: SISTEMA FTIR | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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2010 Kobelco SBW-330
usado
- Fabricante: Kobelco
- Modelo: SBW-330
Detalhes: Teste e metrologia de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: SBW-330 Teste e metrologia de wafer
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2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
usado
- Fabricante: Valley
- Modelo: JVX6200I
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de raios X (refletividade de raios X) | Envio: EXW
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1997 LG SEMICON CLS-9002
usado
- Fabricante: LG SEMICON
Processo: 3ª INSPEÇÃO ÓPTICA | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
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2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
usado
- Fabricante: Nanometrics
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de máscaras e wafer | Envio: EXW
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2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
usado
- Fabricante: Nanometrics
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de máscaras e wafer | Envio: EXW
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Dica: informe o fabricante, modelo ou palavra-chave