Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Envio: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO METAL | Envio: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

KLA TENCOR P-15

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

HSEB AXIOSPECT 300

• Fabricante: HSEB
• Modelo: AXIOSPECT 300

Envio: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• Fabricante: Rudolph

Envio: EXW

2014 Lasertec BGM300

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: Scanlaf Mars 1800

2005 Rudolph Metapulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW